本文由平尚科技介紹意法半導(dǎo)體的8位STM8微控制器實(shí)現(xiàn)的電容感應(yīng)式觸摸按鍵原理，以及在電磁爐應(yīng)用中的觸摸按鍵解決方案。
    ST的電容式觸摸按鍵方案通過一個(gè)電阻和感應(yīng)電極的電容CX構(gòu)成的阻容網(wǎng)絡(luò)的充電/放電時(shí)間來檢測(cè)人體觸摸所帶來的電容變化。
    電磁爐是采用磁場(chǎng)感應(yīng)電流的加熱原理對(duì)食物進(jìn)行加熱。加熱時(shí)，通過面板下方的線圈產(chǎn)生強(qiáng)磁場(chǎng)，磁力線穿過導(dǎo)磁體做的鍋的底部時(shí)，鍋具切割交變磁力線而在鍋具底部產(chǎn)生渦流使鍋底發(fā)熱，達(dá)到加熱食物的目的。
    STM8S105S4采用的是STSTM8內(nèi)核，具備3流水線的哈佛結(jié)構(gòu)，3.0~5.5V工作電壓，內(nèi)部16MHz RC可提供MCU 16MHz工作頻率，提供低功耗模式和外設(shè)時(shí)鐘關(guān)閉功能，共有34個(gè)I/O可用。
電磁爐工作環(huán)境中的干擾
1. 電磁干擾
    電磁爐在加熱鍋的同時(shí)，也對(duì)電路板上感應(yīng)電極正向或反向的電流，從而會(huì)縮短或增長(zhǎng)按鍵充放電時(shí)間，會(huì)對(duì)按鍵的檢測(cè)造成很大影響，甚至產(chǎn)生誤動(dòng)作，常見的方法采用硬件屏蔽和過零點(diǎn)檢測(cè)來消除電磁輻射對(duì)按鍵的影響。
硬件屏蔽：在STM8S的解決方案中，ST提供了感應(yīng)電極和走線的設(shè)計(jì)規(guī)范和Driven Shield功能。
過零點(diǎn)檢測(cè)：硬件過零點(diǎn)檢測(cè)和軟件過零點(diǎn)檢測(cè)
2. 電網(wǎng)干擾
    在實(shí)驗(yàn)中，采用與外界電網(wǎng)隔離或使用軟件濾波。
3. 濺水，濺油的影響
    本解決方案采用軟件算法可靠地將覆水濺油與手指按下的狀態(tài)區(qū)分開。
4. 環(huán)境自適應(yīng)能力
    在ST的解決方案中，實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)校準(zhǔn)功能，實(shí)時(shí)地提供環(huán)境檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)環(huán)境自適應(yīng)的機(jī)制。